-Назад

Рис. 1 Схематическое изображение оптического наноскопа.

 

Точность определения центра отдельной наночастицы на два порядка превышает теоретическую границу разрещения светового микроскопа обусловленную дифрацией света и определяемую длиной световой волны. В то же время амплитуда рассеяния света на наночастице на прямую зависит от локальной величины ближнего светового поля, сформированного наблюдаемым обьектом, его геометрия и поглащающими свойствами в  данной точке. Данные о координатах и амплитуде рассеяния наночастиц позволяют при помощи компьютерной обработки получить подробное изображение самого обьекта. При этом разрешение достигает нанометрового диапазона и позволяет рассмотреть детали обьекта намного меньше длины волны света. На рисунке 2 схематически приведен принцип действия оптического наноскопа.

Рис. 2  - Принцип действия оптического наноскопа Video: Почему мерцают наночастицы проплывющие над тремя полосками - это понятно, а вот отгадайте: почему они мерцают, проплывая над казалось бы серой однородной полоской???

 

На рисунке 3  приведены расчетные кривые сечения изображения маски, состоящей из трех полос, которые значительно меньше по размеру световой длины волны с применением наноскан-модуля и без него.

 

Достигаемое таким образом суперразрешение позволит исследовать Детали ДНК и РНК для прикладных задач Биологии и генной инженерии, поможет в развитии методов амбулянтной ранней диагностики рака при помощи быстрой инспекции внутриклеточных деталей исследуемых тканей, будет применяться для инспекции литографических масок применяемых в массовом производстве компьютерных чипов и будет, вообще говоря, являться мощным измерительным средством необходимым для развития всех видов нанотехнологий.

Выход на рынок будующего продукта задуман в виде дополнительного модуля к обычному микроскопу, предлагаемого покупателю опционально при покупке микроскопа. Это обеспечит саморекламу и будет автоматически расширять диапазон применения наноскан-модулей в самых неожиданных отраслях науки и произыодства.    

Интеллектуальная собственность метода сканирования ближнего поля при помощи множества наночастиц защищена Российским патентом и международной заявкой. 

Первые лабораторные установки прошли экспериментальные испытания и подтвердили суперразрешающие свойтсва метода ближнепольного сканирования множеством наночастиц.

-Назад